介電常數介質損耗測試儀-介電常數測試儀

簡要描述：介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。

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廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-07-20
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介電常數測試儀

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品牌	AIRTIMES/中航時代

    ZJD-A介電常數及介質損耗測試儀儀器介紹

    ZJD-A介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。

    技術參數

    1 Q值測量范圍：5～999

    Q值量程分檔：30、100、300、999、自動換檔或手動換擋

    誤差：25kHz～10MHz   ≤5%±滿度值的2%

    10MHz～50MHz  ≤7%±滿度值的2%

    2 電感測量范圍：0.1μH～1H  分七個量程

    3 電容測量范圍：1PF～460PF

    主電容調節范圍：40PF～500 PF

    準確度：150PF以下±1.5PF

    150PF以上±1%

    微調電容調節范圍：-3PF～0PF～+3PF

    準確度：±0.2PF

    4 頻率覆蓋范圍：25 kHz～50MHz 分七段

    指示誤差：2×10-4±2個字

    5 電源：220V±22V   50Hz±2.5Hz   25W

    6 環境溫度：(0～+40)℃

    7 相對濕度：RH<80%

    8 外形尺寸：380mm×132mm×280mm

    9 重量：約7kg

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    ZJD-B數字式介電常數及介質損耗測試儀

    儀器介紹

    ZJD-B全數字顯示介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。

    ZJD-B數字式介電常數及介質損耗測試儀讀書清晰,無須換算,操作簡便,特別適合電子元器件的質量分析,品質控制,科研生產,也可用于高校的電子信息,電子通信,材料科學等專業作科研實驗儀器.

    技術參數

信號源頻率范圍	DDS數字合成 10KHz-60MHz	Q測量范圍	1-1000自動/手動量程
信號源頻率覆蓋比	1900/9/6 0:01	Q分辨率	4位有效數,分辨率0.1
信號源頻率精度	3X10 -5 ±1個字,6位有效數	Q測量工作誤差	<5%
電感測量范圍	15nH-8.4H,4位有效數,分辨率0.1nH	調諧電容	主電容30-500PF
電感測量誤差	<5%	調諧電容誤差和分辨率	±1.5P或<1%
標準測量頻點	全波段任意頻率下均可測試	Q合格預置范圍	5-1000聲光提示
諧振點搜索	自動掃描	Q量程切換	自動/手動
諧振指針	LCD顯示	LCD顯示參數	F,L,C,Q,波段等

    中航時代所有產品質保兩年，終身維修,請放心瀏覽選購。

    ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀儀器介紹

    ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀是根據GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數的試驗方法》（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。

    技術參數

    ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。 ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀采用了多項技術：

    1 雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。

    2 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。

    3 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。

    4 自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。

    5 全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。

    6 DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。

    7 計算機自動修正技術和測試回路*化 —使測試回路殘余電感減至zui低，** Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。

    ZJD-C介電常數及介質損耗測試儀的創新設計，無疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實驗室和電子制造業提供了更為方便的檢測工具，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調諧電容值下檢測器件的品質，無須關注量程和換算單位。

	主要技術特性
Q 值測量范圍	2 ～ 1023,量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000,自動換檔或手動換檔
固有誤差	≤ 5％±滿度值的 2％(200kHz～10MHz),≤6％±滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差	≤7％ ± 滿度值的2％(200kHz ～ 10MHz),≤8％ ± 滿度值的2％(10MHz～160MHz)
電感測量范圍	4.5nH ～ 140mH
電容直接測量范圍	1 ～ 200pF
主電容調節范圍	18 ～ 220pF
主電容調節準確度	120pF 以下 ± 1.2pF;120pF 以上 ± 1 ％
信號源頻率覆蓋范圍	100kHz ～ 160MHz
頻率分段(虛擬)	100 ～ 999.999kHz,1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz
頻率指示誤差	3 × 10 -5 ± 1 個字

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