介電常數測試儀使用方法

介電常數測試儀

4 介電常數測試儀使用方法

4.1 ZJD-B介電常數測試儀裝置圖示：

1 圓筒電容器。  2 平板電容器。  3圓筒測微桿。

4 平板測微桿。  5 圓筒測微頭。  

4.2 被測樣品的準備：

被測樣品要求為圓形，直徑38~42 mm配ZJD-B。這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1~5mm之間，如太薄或太厚則測試精度就會下降，樣品要盡可能平直。

注意：在操作中要十分注意樣品的清潔，要戴手套或用鑷子取放樣品。

下面推薦一種能提高測試性的方法：準備二片厚0.05mm的圓形錫膜。直徑和平板電容器極片一致，錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林，它起粘附作用，又能排除接觸面之間殘余空氣。把錫膜再粘在平板電容器兩個極片上，粘好后，極片呈鏡面狀為佳。然后，放上被測樣品。

4.3 介電常數測試儀測試前準備：

先要詳細了解本裝置配用Q表的使用方法，操作時，要避免人體感應的影響，即調節本裝置時，手臂盡可能離開本裝置。

持不變。試樣電容近似于△C，即是可變電容器電容的變化量。

測量誤差主要來自二次指示器的標定刻度，以及在連線中尤其是在可變電容器和試樣的連線中所引入的阻抗。

4.3.1 檢查Q表是否正常工作

a ) 將250-100μH電感器（一般先用250μH），接在Q表“Lx”接線柱上。

b) 頻率調至1MHz。

c ) 微調電容器置于“0pF”處（ZJD-B無微調電容），調節主調電容器，使其諧振，Q值應指示在160左右，調諧電容值刻度在100pF附近，表示Q表處于正常工作狀態。

4.4 國標GB/T 1409-2006，推薦Q表法測試絕緣材料的介質損耗因數和介電常數程序：

4.4.1 先完成4.3規定的測試前準備基礎上進行正常測試。

4.4.2 把本測試裝置ZJD-B插到Q表測試回路的“Cx”二個端子上（如下圖）。把圓筒電容器置于12.5mm處，平板電容器置于3 mm處。

4.4.3 把被測樣品放置于二極片之間，到二極片夾住樣品止。

4.4.4 調節Q表的調諧電容器，使其諧振，此時讀取Q值記為Qt，調諧電容的刻度記為Ct。

4.4.5 松開平板電容器極片，取出被測樣品，但平板電容器仍在置于有樣品時的刻度處，保持極片距離和有樣品時一致。

4.4.6 再次調節Q表的調諧電容器，再次諧振，此時讀取的Q值為Qo（Qo總是比Qt高，對絕緣材料，二者較接近，要仔細調諧,并要利用Q表的Q記憶功能，得到正確的Q值）。調諧電容的刻度記為C0（C0總是比Ct大）對低介電常數材料，電容變化值（ΔC）較小，可考慮使用Q表的ΔC調節旋鈕或用ZH914,ZH915測試裝置上圓筒電容器的讀數變化換算成ΔC，以提高測試精度。

4.4.7試樣的損耗因數計算公式為：

 試樣的介電常數測試儀計算公式為：

式中：

C0：電路中的總電容，包括電壓表以及電感線圈本身的電容，一般以無試樣時，Q表諧振電容值為C0（即Q表調諧電容指示值）。

△C：是移除試樣后再諧振時電容值（C0）與有樣品時調諧電容值（C0）之差，即：△C= C0- Ct（有試樣時測得電容值）

Cp：極片空氣介質結構電容，Cp= r 2 /3.6d ,式中r為測試夾具平板電極的半經，對ZJD-B而言r =1.9。所以當用厚度(d)為2mm樣品測試時，用ZJD-B測Cp=5pF。同樣可以查看附圖1板間隙曲線得到Cp值。

Qt：有試樣時測得Q值。  Qo：無試樣時測得Q值。

4.5 另一種介質損耗因數和介電常數測試儀方法（變電納法）：

4.5.1調節平板電容器測微桿，使二極片相接為止，讀取刻度值記為D0。這時測微桿應處在0mm處附近。

4.5.2再松開二極片，把被測樣品插入二極片之間，調節平板電容器測微桿，到二極片夾住樣品止。這時能讀取新的刻度值，記為D1，這時樣品厚度D2=D1-D0。

4.5.3把圓筒電容器置于10mm處。

4.5.4設置Q表的測試頻率，例如1MHz，調節Q表調諧電容，使之諧振，讀得Q值。

4.5.5 先順時針方向，后逆時針方向，調節圓筒電容器，讀取當Q表指示Q值為原值的一半時測微桿上二個刻度值，取這二個值之差，記為M1。舉例：諧振時Q值為200，先順時針方向轉，Q值下降呈100時，圓筒刻度計為8mm，再逆時針轉至再次出現Q值降至100時，刻度計為11mm，測二值之差M1=3。

4.5.6再調節圓筒電容器，使Q表再次諧振。即圓筒電容器重新回到10mm處。

4.5.7取出平板電容器中的樣品，這時Q表又失諧，調節平板電容器，使再諧振，讀取測微桿上的讀值D3，其變化值為D4=D3-D0。

4.5.8 和4.4.5款操作一樣，得到新的二個值之差，記為M2，M2總比M1小。

4.5.9 計算測試結果：

被測樣品的介電常數：

∑=D2/D4

被測樣品的介質損耗因數：

tanδ=K（M1-M2）/2Cp 

式中：K為圓筒電容器線性變化率，應為0.33/mm。

      Cp 見附圖1

一般按以上公式計算的結果，其精度和重復性是能滿足的。但對介電常數大的被測樣品（即樣品從平板樣品放入和取出平板電容器刻度值變化較大），邊緣效應電容對測試會有較顯著的影響。這時可按下列公式計算：

∑=（C2+CF2-CF）/C1

tanδ=K（M1-M2）/3.46（C2+CF2-CF1）

式中：C1=D1刻度時平板電容器空氣介質電容量（見附圖一）

C2=D3刻度時平板電容器空氣介質電容量（見附圖一）

CF1=D1刻度時的邊緣效應電容量（見附圖二）

CF2=D3刻度時的邊緣效應電容量（見附圖二）

4.6附錄：國標GB/T 1409-2006“測量電氣絕緣材料在工頻，音頻，高頻下電容率和介質損耗因數”和美標ASTD D150的測試方法摘錄如下：

  介電常數測試儀諧振法（Q表法）

諧振法或Q表法是在10kHz～100MHz的頻率范圍內使用。它的原理是基于在一個諧振電路中感應一個已知的弱小電壓時，測量在該電路出現的電壓。下圖表示這種電路的常用形式，在線路中通過一個共用電阻R將振蕩器信號耦合到調諧回路上，也可用其他的耦合方法。

    介電常數測試儀諧振法的電原理圖

操作程序是在規定的頻率下將輸入電壓或電流調節到一個已知值，然后調節諧振電路達到zui大諧振，觀察此時的電壓Uo(相應為Qo)。然后將試樣接到相應的接線端上，再調節可變電容使電路重新諧振，觀察新的電壓U1（相應為Qt）的值。

持不變。試樣電容近似于△C，即是可變電容器電容的變化量。

測量誤差主要來自二次指示器的標定刻度，以及在連線中尤其是在可變電容器和試樣的連線中所引入的阻抗。

4.7 介電常數測試儀其他應用使用方法：

使用本測試裝置和Q表配用，對絕緣材料以及其它高阻性能的薄材，例如：紙張、木材、粉壓片料等，進行相對測量。其測試方法就非常簡便、實用。采取被測樣品和標準樣品相比較方法，就能靈敏地區別二者之間的細微差別，例如含水量，配用原料變動等等。

測試時先把標準樣品放入平板電容器，調節Q表頻率，諧振后讀得Q值。再換上被測樣品，調節圓筒電容器，再諧振，看Q值變化，如Q值變化很小，說明標準樣品和被測樣品高頻損耗值一致，反之，說明二者性能有區別，如圓筒電容器調節不能再諧振，通過調節Q表頻率才能諧振，且頻率變化較大。說明被測樣品和標準樣品的配用原材料使其介電常數相差很大。